熱電特性評價裝置 ZEM-3系列的測量原理分析
這是一種同時測量熱電材料的熱電率（塞貝克系數）和電導率的裝置。我們準備了溫度范圍為-80°C至1000°C的測量儀器，操作簡單。
半導體，陶瓷，金屬等廣泛材料的熱電特性評價。
樣品以圓柱形或方柱的形式垂直放置在加熱爐中的上塊和下塊之間。通過下塊中的加熱器給樣品施加溫度梯度，同時將樣品加熱并保持在規(guī)定的溫度。塞貝克系數的測量是通過測量壓在樣品側面的熱電偶上的上部和下部T1，T2與熱電偶一側的同一股線之間的熱電動勢dE來確定的。
電阻測量采用直流四端法，通過在樣品兩端施加恒定電流I，測量熱電偶同一元件線之間的電壓降dV，并去除引線之間的熱電動勢來確定。
采用溫度可控性優(yōu)異的紅外線金像加熱爐和溫差控制用微加熱器
測量由計算機控制，可以在規(guī)定溫度下對各溫差進行測量，也可以消除暗電動勢等自動測量
標配自動歐姆接觸檢查（V-I圖）
可選附件可用于測量薄膜
可定制為高電阻
